探針冷熱臺專為樣品變溫電學性能測試而設(shè)計，用于表征材料電學特性隨溫度的變化規(guī)律。該設(shè)備在光學冷熱臺基礎(chǔ)上，集成了電學模塊（包含探針、位移機構(gòu)及電學接口）。通過移動探針，可實現(xiàn)針尖與樣品表面任意區(qū)域的精準接觸。電信號經(jīng)由探針、信號線、接口等，傳輸至外部測量儀器（如源表、數(shù)字萬用表等），獲取相關(guān)電學數(shù)據(jù)，進而分析材料在不同溫度下的電學特性。

探針冷熱臺根據(jù)探針座的不同 ，可分為內(nèi)部調(diào)節(jié)探針臺 、外部調(diào)節(jié)探針臺、電控調(diào)節(jié)探針臺等。

本系列產(chǎn)品具備4K至1700℃的超寬范圍精確控溫能力。依據(jù)目標溫度及應用特點，集成包括：液氦制冷、液氮制冷、熱電制冷、電阻加熱、紅外加熱、激光加熱等在內(nèi)的多種前沿溫控解決方案，為復雜變溫實驗提供強大支持。

同時，提供多語言SDK（如Labview、C#等），賦能客戶實現(xiàn)高效定制化集成。

果果儀器ECHC400V-EC：溫度范圍-190℃~400℃，采用電控探針座，可在實驗過程中通過電動控制探針位置，位移精度達5nm。

電控調(diào)節(jié)探針臺ECHC400V-EC特點：

• 溫度范圍：-190℃~400℃

• 納米級控制精度探針

• 電動控制

• 結(jié)構(gòu)緊湊

• 適用真空環(huán)境

• 高精度控溫

電控調(diào)節(jié)探針臺ECHC400V-EC參數(shù)：